美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀簡單輕便,能夠?qū)︻w粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量。基于TSI40年氣溶膠儀器設計的經(jīng)驗
更新時間:2024-01-22 | 廠商性質(zhì):代理商 |
訪問量:2106 | 起訂量:>1 |
本款產(chǎn)品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理系統(tǒng),從而得到高質(zhì)量和高精度的數(shù)據(jù)。
同時,TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的精性。3330不僅可以單獨使用,而且還可以放入TSI的外場環(huán)境箱中在野外使用。
產(chǎn)品特點:
美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀 技術(shù)參數(shù)
測量原則 :
120°光散射和濾膜采樣
濃度限制:
很高3,000個/ cm3 (3,000,000個/L)
質(zhì)量濃度 :
0.001-275,000 mg/m3
顆粒物粒徑:
檢測粒徑范圍:0.3-10 mm
粒徑分辨率:0.5mm時5%(符合ISO 21501-01/04)
粒徑通道 :很多16通道,用戶可調(diào)
北京楚齊儀表有限責任公司
地址:海淀區(qū)安寧莊西路9號宜品上層
©2019 版權(quán)所有:北京楚齊儀表有限責任公司 備案號:京ICP備16005412號-4 總訪問量:171609 站點地圖 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸